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三离子束切割仪Leica EM TIC 3X
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样本9/dt>
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德国
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产品简今/div>

为您带来的优劾/h3>

**性能

独特的三离子束系统,可获?*的截面处理质量,并可高效获得宽且深的切割区域,大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中*多处?个样品。因此对有高通量需求的实验室,徕卡EM TIC 3X?*解决方案、/p>

可装配系绞/h3>

根据您的样品制备需要,可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一体化设计样品台-标准样品台,多样品台或冷冻样品台、/p>

冷冻样品?/h3>

针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等,可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理,获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150 C、/p>

样品扗/h3>

多种多样的样品托,适合于各类尺寸样品、/p>

样品TOPO结构清晰可见

除了剖面切割,使用同一样品托还可对样品进行清洁及增强衬度的功能、/p>

Leica EM TIC 3X - 设计和操作方面的创新性特炸/span>

高通量,提高成本收 ;可获得高质量切割截面,区域尺寸 辽41mm 多样品台设计可一次运行容纳三个样 品; 离子研磨速率高,Si材料150m/ h?0m切割高度,可满足实验室高 量要 可容 * 505010mm ;可使用的样品载台多种多 简单易用,高精 ;可简易准确地完成将样品安装到载台 上以及调节与挡板相对位置的校准工 ;通过触摸屏进行简单操控,不需要特 别的操作技巧;样品处理过程可实时监控,可以通过 体视镜或HD-TV摄像头观察;LED照明,便于观察样品和位置校准 ;内置式,解耦合设计的真空泵系统 提供一个无振动的观察视 ;可在制备好的平整的切割截面上可 再进行衬度增强作用,即离子束 蚀处理;通过USB即可进行参数和程序的 传或下载;几乎适用于任何材质样 ;使用冷冻样品台,挡板和样品温度 降至?50C L

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