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C640型铝箔测厚仪
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C640测厚?/span>是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量、/span>

设备技术特征:

1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现先进的测试稳定性、重复性及精度、/span>

2、高效——采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程;智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理、/span>

3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储;支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统(可选配置),为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能、/span>

C640测厚?/span>测试原理9/span>

将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度、/span>

执行标准9/span>

ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)

应用材料9/span>

基础应用9/span>

薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测宙/span>

纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测宙/span>

扩展应用9/span>

金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定

瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定

纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测宙/span>

非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测宙/span>

其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测宙/span>

C640测厚?/span>技术指标:

C640M型号参数9/span>

测试范围(标配)??mm

分辨率:0.1m

重复性:0.8m

测量范围(选配):0???2mm

测量间距??000mm(可设定(/span>

进样速度?.5?0mm/s(可设定(/span>

附加功能9/span>

自动进样机:可选配?/span>

DataShieldTM数据盾:可选配?/span>

GMP计算机系统要求:可选配?/span>

测量方式:机械接触式

测量压力及接触面积:

薄膜?7.51 kPa?0 mm2

纸张?001 kPa(标准配置) / 501 kPa(可选配置)?00 mm2

电源?20-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸?70mm(L?#215; 350mm(W?#215; 410mm(H(/span>

净重:26kg

C640H型号参数9/span>

测试范围(标配)??mm

分辨率:0.1m

重复性:0.4m

测量范围(选配):0???2mm

测量间距??000mm(可设定(/span>

进样速度?.5?0mm/s(可设定(/span>

附加功能9/span>

自动进样机:可选配?/span>

DataShieldTM数据盾:可选配?/span>

GMP计算机系统要求:可选配?/span>

测量方式:机械接触式

测量压力及接触面积:

薄膜?7.51 kPa?0 mm2

纸张?001 kPa(标准配置) / 501 kPa(可选配置)?00 mm2

电源?20-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸?70mm(L?#215; 350mm(W?#215; 410mm(H(/span>

净重:26kg

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