仪器简介：飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息、�/span>

技术参数：

. 并行探测所有离子，包括有机和无机分子碎片、�/span>

. 无限的质量探测范围（实际测量中大�?000m/z 原子量单位）、�/span>

. 完全透过率下实现高的质量分辨率、�/span>

. 极高的横向和纵向空间分辨率（横向小于100纳米，纵向小�?纳米）、�/span>

. 探测灵敏度可达ppm或ppb量级、�/span>

. 质量探测分辨�?M/��M) >1000

. 质量探测准确� �?0 milli 质量单位

. 反射性分析器

. 5 分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境

主要特点９�/strong>

. 超高的表面灵敏度(1x109 atoms/cm2)

�� 操作简�?? day training)

�� 1 分钟分析，样品处理流� <7分钟

�� 导体和绝缘体表面均可测试

�� 可得到元素和分子信息

�� 从元素中分离出普通有机物

�� 正电和负电的 二次离子质谱

�� 同位素分枏�/span>

�� 分析面积 ~0.5 mm

�� 溅射预清洗表靡�/span>

�� 提供材料数据庒�/span>

专业科研垊�strong>飞行时间二次离子质谱

MS-1000简易型飞行时间二次离子质谱，专业用于表面分枏�/span>

• MS-1000台式型，用于固体表面分子结构定性分枏�/span>

• MS-1000�?strong>飞行时间二次离子质谱，属于静态模式的SIMS，对于样品表面的分子非常敏感

• MS-1000相比其它SIMS，比较便宜，性能价格比高，方便使用，15分钟可以得到样品表面信息、�/span>

• MS-1000专业设计用于质量控制和错误诊断，生产时的指标监测，以及其它表面分析手段做不到的领埞�/em>.

• 质谱分析仪和离子枪设计成一体，使得MS-1000成为全球*小的静态二次离子质�?

MS-1000应用领域包括:

• 分析涂层中的胶黏剂以及复合材斘�/span>

• 半导体制备中的污染，药物生产的准备和环境监测

• 生物体兼容性测诔�/span>

• 快速检测等离子体对样品表面的处理和改�?/span>

• 涂料中预处理的有机粘合剂分析