纳米尺度样品的特征、�/span>

它可以用作独立的显微镛�/span>

或与电子束结合，这是它的**优点、�/span>LiteScope?通常在高真空下操作，但可根据要求适用于超高真穹�/span>、�/span>

LiteScope?连接�?/span>SEM / FIB显微镜的样品台，从而可以根据用户的喜好进行操作、�/span>LiteScope?能够浊�/span>野�/span>

在倾斜位置，例如用于与FIB技术同时使用、�/span>在这种情况下，用户将会欣赏对接选项，从而可以将整个SPM探针缩回并隐藏在LiteScope?的主体中、�/span>

机械设计在刚性和适当的共振频率方面尊重所有基本结构要求、�/span>结果�?/span>高度稳定的机架，机械振动水平极低，可产生极其可靠的结果、�/span>

设计亮点

• 薄型和小尺寸可集成在SEM / FIB仪器�?/span>

• 易于集成的程庎�/span>-安装�?/span>SEM / FIB操纵�?/span>三�/span>

• 通用探头支架适用于多秌�/span>SPM方法和简单的“即插即用”组裄�/span>

• 样品倾斜高达60��

• 优化的机械设计，具有极低的振动水平（刚性和适当的共振频率），集成前置放大器（尽可能消除信号失真/噪声（�/span>

LiteScope?�?/span>�?/span>