塞贝克系�?电阻分析系统 CTA-4 （超低温版）

测试参数：电导率/电阻率、热电势�?塞贝克系�?/p>

温度范围�?K-300K�?269℃—室温）

低温技术：低温制冷机作冷源，无需消耗液�?液氦

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本系统采用低温制冷机作冷源，无需使用液氮/液氦，实现固体材料低温区�?K-300K; -269℃—室温）的电学性能（电导率/电阻率，热电势率/塞贝克Seebeck系数）和可选热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等)测量单元、�/p>

系统设计思想

在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上，集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平台分离设计，测试样品更换过程变得快捷、方便、�/p>

基本系统

硬件结构包括：样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境，以及测量相关的软硬件控制中心、�/p>

样品宣�/strong>

样品室连接在样品架组件上，通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空状态，样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件，再通过测试平台把冷量传递给样品，使样品降温。样品测量采用样品托的方式、�/p>

温度控制

� 用制冷机直接冷却样品的方式，通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响，又保证了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温 度控制。温控范围：4.0K-300K连续控温；温度稳定性：��0.1K(4.0-20K)/ ��0.3K(20-300K)、�/p>

全球甄选一流供货商，保证系统品质达�?*�?/span>

CTA系统硬件组成９�/span>

美国吉时�?/span> Keithley（数据采集系统）

德国W.HALDENWANGER（高温陶瓷系统）

英国摩根Morgan（高温特种材料）

美国通用电气GE（光波加热元件）

瑞典康泰尓�/span> Kanthal（加热元件）

美国精量电子MEAS（传感器（�/span>

日本IKO（精密轴承）

日本住友Sumitomo（低温制冷机系统（�/span>

塞贝克系数测量单兂�/strong>

电阻率测量单兂�/strong>

技术参�?/strong>

电阻率测量单兂�/strong>

测量范围９�/td>	10 ��S/m�?0 S/m
测量精度９�/td>	优于1%
样品尺寸９�/td>	长：4�?0mm；宽�?�?mm；高�?�?mm

塞贝克系数测量单兂�/strong>

测量范围９�/td>	1��V/K�?V/K
测量精度９�/td>	优于6%
样品尺寸９�/td>	长：5�?0 mm；宽�?�? mm；高�?�? mm