仪器简介：

美国光学膜厚�?/strong>，广泛应用于各种薄膜、涂层光学常�?n and k)和厚度的精确测量，设备分为在线和离线两种工作模式，操作便捷，几秒钟内即可完成测量和数据分析，USB 连接计算机控制；

薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度�

应用９�/strong>

半导体（光刻胶、氧化物和氮化物等）＋�/p>

液晶显示器（ITO� Polyimide� Cell gap），

法医鉴定、生物薄膜和材料：�/p>

墨水、矿物、染料、化妆品：�/p>

硬质涂层、减反射涂层、滤波涂层；

医药、医疗器件；

光学薄膜、TiO2� SiO2� Ta2O5�

半导体化合物�

功能薄膜（MEMS/MOEMS）；

非晶硅、纳米晶硅、晶体硅：�/p>

技术参数：

测量范围�?0 nm to 50 ��m (Thickness only)�

100 nm to 10 ��m (Thickness with n and k) ：�/p>

多层测量：Up to 4 layers：�/p>

光点大小调节范围�?.8 mm to 1 cm ：�/p>

薄膜厚度测量精度�?#177;0.5%：�/p>

厚度测重复性：0.1nm�

样品台尺寸：200 mm �� 200 mm：�/p>

主要特点９�/strong>

*基片折射率和消光系数测量：�/p>

*薄膜厚度测量，平均值和标准偏差分析：�/p>

*薄膜折射率和消光系数测量：�/p>

*适用于不用材质和厚度的薄膜、涂层和基片：�/p>

*测试数据输出和加载；

*直接Patterned或特征机构的试样测试：�/p>

*可用于实时在线薄膜厚度、折射率监测：�/p>

*波长范围可选；

*系统配备强大的光学常数库和材料数据库，便于测试和数据分析：�/p>