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石墨盘发射率测量系统
比表面积测定?/a>
产品简今/div>
太阳能电池IV特性分布测量系统是一种新型的太阳能电池测量设备,它同时具备IV特性mapping测量,缺陷分析功能,QE量子效率Mapping测量等功能、/span>
可图像化地显示电池或组件效率分布,可用于缺陷分析。单晶硅,多晶硅+/span>CIGS,染料敏化,有机太阳能电池或组件都能进行测量、/span>
采用测试方法是:
条形模拟太阳光按设定的多个方向扫描照射光伏电池表面,扫描过程中同时采雅/span>IV特性数据,获取的数据经迆/span>CT(计算机断层扫描)计算可得到直观的全范围内每一炸/span>IV特性图像、/span>
技术特点:
可应用于各种太阳能电池和组件:/span>
**可测量电池或组件尺寸?mm1mm to
156
156mm
?00mm500mm?500mm1500mm or更大:/span>
测量时间,小亍/span>1分钟'/span>6英寸片)
单点或全区域皃/span>IV特性数据分市/span>
AM1.5
滤片,可见光,红外光滤片
辐照光强
one sun
,且0.1~7sun可调:/span>
温度控制单元
缺陷检测功胼/span>
全自动测量软仵/span>
测试功能9/span>
全面积范围内电流密度、短路电流、填充因子、转换效率、内阻等
IV
特性分市/span>Mapping测量:/span>
全面积范围内光谱响应
SR
、量子效玆/span>QE Mapping测量:/span>
指定点、微区光谱响库/span>SR、量子效玆/span>QE Mapping测量:/span>
指定点、微区内电流密度、短路电流、填充因子、转换效率等
IV
特性分市/span>Mapping测量:/span>
单一波长下全面积范围、指定点、微匹/span>IV特性分市/span>mapping测量:/span>
定电压下电流密度分布
Mapping
测量:/span>
效率不均匀度分布分析、分流分析、失效分析等:/span>
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