美国Polyk Technologies公司研发了高电场下的低温频谱介电测量系统，更好的解决了非线性介电响应问题、�/span>

非线性介电响应：-当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A� E4980A�?294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低、�/p>

-在很多应用中，例如电容器和驱动器，介电层>10V/um或�?00V/um的高电场下工作，它们的有效介电常数和损耗tan��是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析仪的测量值@1Vrms、�/p>

-在介电测试过程中直接加载一个高压信号，如果样品突然发生介电击穿，这对于昂贵的LCR Meter有很大的损坏风险、�/span>

因此美国Polyk Technologies公司研发了此款宽频谱介电测量系统，有效的避免了上述问题的发生、�/span>

技术规格：1�?*电压�?#177;4000V：�/p>

2�?*电流�?#177;20mA：�/p>

3）频率范围：100Hz to 1MHz：�/p>

4）电容范围：100pF to 100nF：�/p>

5）温度范围：-184� to 250℃；

6）温度控制腔室：-75� to 200℃，无需液氮；（可选）

7）温度控制腔室：室温 to 1000℃；（可选）

8）宽频范围：20 Hz to 1 MHz or 110 MHz� or 0.01 Hz to 1 MHz(与配备的阻抗分析仪相�?;（可选）

9）Large AC信号单元；（可选）

欢迎垂询�?/span>