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jasco,NFS series,近接场光学显微分光系统
产品简今/div>

扫描型近接场光学显微分光系统NFS series

▻/strong>概要

日本分光株式会社生产的可以分先span>浊/span>定的?/span>描型接近圹/span>光学昽/span>?span>镛/span>NFS系列,世界一流、span>还/span>台装置能10-100nm左右的空闳/span>分解劚span>迚/span>衋span>昽/span>微分先span>浊/span>量。能在微小的颅/span>埞span>观测先span>谱强?span>受/span>化以及波?span>变换可更好的对物质特性描?/span>、/p>

◆特?/p>

?世界**台一体化扫描型近?span>圹/span>光学分光显微镛/span>

?数十~百nm高空间分辨率测量显微分光、/p>

?使用日本分光制的探头可准确使用特定大小的近接场光、/p>

?可同旵span>测量样品表面微小的凹凸形状。和原子劚span>显微镛/span>(AFM(span>类似的用法、/span>

?illumination(透过)、collection illumination-collection测量方式、/p>

◆近接場光学显微分光装置

对于微小领域的表征方法有利用电子线的电子显微镜形态观寞/span>?/span>X线微分析仪,扫描型探头电镛/span>表面形状观察、/span>这些分析方法可以得到高空间分辨率的画僎/span>、但?/span>得不到样品表面的化学信息。另外,虽然?/span>显微FT/IR分光?/span>显微光激发光分光?/span>昽/span>微拉曼光等可以得到表面化学信息,但是因为穹/span>间分辨率有限?/span>、所得到的信息也停留在微米量级。原因是光的衍射是有限度的不能超过使用波长范围、/span>

◆新开发光纤制作技?/p>

NFS系列先span>纤前端约丹/span>数十~百nm开口的探头用于近接圹/span>先span>产生或耄/span>近接圹/span>光集光。日本分光的开口技?span>?/span>神奈川科?span>技术科学院(KAST(span>皃/span>研究成果基础上开发的?span>特定尺寸的开口,再现性好、span>开口的尺寸用电子显微镜高度的控刵/span>、/p>

◆NFS series产品种类丰富

主要有以下种类。重点介绍近?/span>场显微红外分光系绞/span>、/span>别的型号详细请咨诡/span>、/span>

?室温型/低温型 近接圹/span>光照射装置(NFS-220/320(/span>?室温型/低温型近?/span>圹/span>?/span>扫描装置'/span>NFS-210/310(/span>?室温型/低温型 近接圹/span>蛍光/光激发光分光装置'/span>NFS-230/330(/span>?近接场显微镜运/span>红外分光装置'/span>NFS-220FT/320FT(/span>?近接场显微红夕/span>分光装置'/span>NFIR-200/250(/span>?近接场纳米碳素管评价装置'/span>NFS-230C/330C、特殊定制)?近接场时闳/span>分解分光装置'/span>NFS-230TR/330TR、特殊定制)

◆NFIR-200/250 近接场显微红外分光系绞/p>

近接场显微红外分光装?/span>纡/span>外分光法代表的振动分光法、不论有?无机应用于各种分析领域、/span>但是,现有的红外显微分光系统穹/span>间分辨率取/span>光的衍射现象的影响,限度丹/span>10m左右、/span>近接圹/span>分光法、可以超过这个衍射限度、可见光区域应用于从亚微细米到纳籲/span>规模的光分析,红外区域由于光纤探头吸收的原因不能进行分光分析、/span>红外领域通过采用漫反尃/span>型近?/span>圹/span>光学系统?/span>实现了从运/span>红外到中红外领域的亚微细米空间分辨率的分光测野/span>、/span>通过照射到探头前端的红外光产生红夕/span>近接圹/span>光?/span>检浊/span>近接圹/span>光和样品兰/span>鸣漫反射结果信号?/span>测量红外近接场光谰/span>。空间分辨率不受红外波长影响、由探头前端产生近接圹/span>光的实际尺寸决定、大约探头前端径大小。因此,红外分广发可用于亚微细米以下领域测量、/span>

▼特征和系统略图

?漫反射型近接场光学装置可除去光纤探头吸收的影响、/p>

?环保配置、/p>

?NFIR-250的FT部装有大型测量用的样品室,可对应一般的红外测量、/p>

▻/span>NFIR-200/250规格

机种

NFIR-200/250

测量方式

杂散光测量方弎/span>、光?/span>调整方式?/span>探头位置调整方式

检测器

设置数量?*1/span>秌/span>标准检测器:液佒/span>氮气冷却MCT检浊/span>?/span>选项检浊/span>器:液体氮气冷却InSb检测器切换方式9/span>电动

样品台范図/span>

竕/span>?/span>2020m、高16m

傅里叶变换型分光系统

测量波长范围9/span>4000}/span>1000 cm-1 (MCT使用旵/span>(/span>5000}/span>2000 cm-1 (InSb使用旵/span>)分辨玆/span>9/span>400px-1干渉計:45入射迈克尔选/span>干渉讠/span>分速器9/span>Ge/KBr

微型样品宣/span>

裄/span>夆/span>'/span>NFIR-250(/span>

控制?/span>PC

OS9/span>Windows XP、通信9/span>16bit AD/DA松/span>?/span>

软件

反馈信号显示器及映射测量软件3次元表示软件?/span>探头见/span>察用CCD画像表示软件映射解析软件?/span>光谱解析软件

尺寸?重量

W1000 x D900 x H1300 mm?/span>280kg'/span>NFIR-200?/span>含防振台(/span>W1600 x D750 x H1300 mm?/span>300kg'/span>NFIR-250?/span>含防振台(/span>

电源

AC100V10% 250VA(本体)?/span>150VA'/span>FT)?/span>100VA'/span>PC(/span>

其他必要的工其/span>

防振台用空气源:氮气或空气源 0.3}/span>0.8MPa

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