▻�/span>概要

　　自动**反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过、�/span>用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量、�/span>入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设宙�/span>P偏光咋�/span>S偏光角度，能研究样品的偏光特性、�/span>

可选择用在紧凑的中型机秌�/span>V-600系列紫外可见近红外分光光度計上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上、�/span>

◅�/span>装置特点

?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件?测量范围广，从紫外到运�/span>红外区域?双光束光学系统，测光稳定性好?可分别控制入射角、受光角?标配偏光测量功能?专用的样品池支架，样品的装卸简協�/span>

◅�/span>规格

▻�/span>ARMV-734/ARMN-735　�?/span>�?*反射玆�/span>测量组件＇�/span>V-600用）

型号	ARMV-734	ARMN-735
测定波长范围	250｝�/span>850nm	250｝�/span>2000nm
测量方式	测量**反射率�?/span>测量逎�/span>迆�/span>玆�/span>
入射觑�/span>	5��｝�/span>60��(测量**反射率）�?/span>0��｝�/span>60��(测量逎�/span>迆�/span>) 0　～　85ℂ�/span>（大入射觑�/span>样品支架�?/span>选项)
角度间隔	0.1��间隔
设定方式	同期、非同期（入射部和受光部（�/span>
测量偏光	S偏光( 0��)�?/span>P偏光( 90��)�?/span>N偏光( 45��)、任愎�/span>设定

›�/span>ARMV-734用于V-650�?60�?/span>ARMN-735用于V-670、�/span>

▻�/span>VAR-7010/7020/7030　自动**反射玆�/span>测量组件＇�/span>V-7000用）

型号	VAR-7010	VAR-7020	VAR-7030
测量波长范围	250｝�/span>900nm	250｝�/span>2000nm	250｝�/span>1800nm
测定方式	测量**反射玆�/span>�?/span>测量透过玆�/span>
入射觑�/span>	5��｝�/span>60��(测量**反射率）�?/span>0��｝�/span>60��(测量透过) 0　～　85ℂ�/span>（大入射觑�/span>样品支架�?/span>选项)
角度間隔	0.1��间隔
设定方式	同期、非同期（入射部和受光部（�/span>
测量偏光	S偏光( 0��)�?/span>P偏光( 90��)�?/span>N偏光( 45��)

›�/span>VAR-7010用于V-7100�?/span>VAR-7020用于V-7200�?/span>VAR-7030用于V-7300、�/span>