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首页 > 产品中心 > 光谱检测分析仪 > jasco,膜厚测定系统（UTS-2000)
产品详情
jasco,膜厚测定系统（UTS-2000)
产品简今/div>
◅/span>规格
▻/span>UTS-2000
机种 |
UTS-2000 |
|
测量方式 |
FT/IR干渉膜厚测量泔/span> |
|
测量配置 |
反射、透过＇/span>选配（/span> |
|
样品尺寸 |
20 20｝/span>1200 1200m |
|
显示?/span> |
内置CMOS相机?/span>认测量位?/span> |
|
◎/span>测量范围／精?/span> |
||
测量膜厚范围 |
0.25m｝/span>750m＇/span>Siの場合） |
|
测量膜厚册/span>?/span>?/span> |
0.005m以下(同一点繰返し測定時?/span>Siの場吇/span>) |
|
●XY样品?/span> |
||
距离 |
200mm200mm |
|
驱动分辨玆/span> |
2m |
|
◎/span>数据处理?/span> |
||
对应OS |
Windows 7 Professional |
|
控制装置 |
JASCO光学管理器控制光学系绞/span>／控刵/span>XY样品?/span>／控制搬送机＇/span>选配（/span> |
|
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