可对各类材料成分除碳元素（C）外的其它元素进行定性及及定量分析，包括对其它同类仪器难以分析的Mg、Al、Si、S、P、Mn 等元素也有较好的表现、�/strong>

应用领域９�/strong>

1、钢铁行业：对生铁、各类铸铁、各类合金钢及炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉�?/strong>

铁矿石除碳（C）以外的各种元素成份分析、�/strong>

2� 耐火材料及水泥行业的分析：各类耐火材料及水泥生料样品的成份分析、�/strong>

3、有色行业：对铝合金、不锈钢、铜合金样品及铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份

分析、�/strong>

4、质检部门� ROSH 指令中的Pb＋�/strong>Cd＋�/strong>Cr＋�/strong>Hg＋�/strong>Br及氯素各种等成份分析、�/strong>

5� 镀层测厚：可对金属材料及非金属材料上的所有电镀层的厚度进行准确无损测量、�/strong>

仪器特点

1、采用DPP 数字脉冲成型技术，计数率高，无漏计，稳定性好：�/p>

2、采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，Be(�?窗厚50��m，靶材Ag(银靶)，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率；

3� 采用世界�?*进的电致冷SDD 半导体探测器，分辨率高，达到130ev，无需液氮制冷，使用方便，可以一次性完成对多种元素的探测；

4、高压电源：电压0V-50kV 连续可调；电�?-2mA 连续可调，精度高，无故障操作：�/p>

5� 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围：�/p>

6�?048 道多道谱仪实时测量显示，对样品X 光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成：�/p>

7� 自动寻峰，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定：�/p>

8、全中文Windows 应用软件，操作简单。专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件：�/p>

9、融合了一系列先进的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）�?*的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛�?优化算法等；

10、国�?*的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP 法）、理�?#945;系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性、�/p>

产品优势

**、快速、无损、直观、环保；

**：测试结果可以接近湿化学方法测试：�/p>

快速：分析样品中的几十个元素只需几分钟；

无损：不会破坏被分析样品的物理和化学特性；

直观：分析结果以图表方式直接呈现：�/p>

环保：不会对环境产生污染破坏：�/p>

四、主要技术指栆�/p>

1、分析元素：Na-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等、�/p>

2、分析范围：1ppm-99.99%、�/p>

4、同时分析：30种元素同时分�?

5、能量范围：1-50keV.

6、测量时间：1-2 分钟可以完成全部待测元素的含量分�?

7、进口电制冷半导体探测器的分辨率�?30ev.

8� 管电压：0-50Kv 管电流： 1�?000 ��A.

9、仪器的分析精度：标准偏差≤0.08%.

10、分析误差：优于国家标准要求.

11、辐射剂量：<25��sv/h.

12、环境温度要求：15�?35ℂ�/p>

14、工作电源：交流220��10%�?0�?0Hz

主要配置

1、探测系绞�/strong>

1、探测器

类型：电制冷SDD探测�?/p>

Be窗厚度：50um

**分辨率：130eV

能量响应范围�?keV-50keV

1. X光管（用于X射线能谱仪）