分辨率:
·重现性:
·仪器原理9/p>图像分析
分散方式9/p>·
测量时间9/p>·
测量范围9/p>直径?00mm,厚度?0mm
虚拟号将180秒后失效
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参考报价:
面议 |
型号9/td> | AFM5500M |
|
品牌9/td> | 日立 |
产地9/td> | 日本 |
样本9/td> | 【暂无【/td> | 信息完整度: | |
典型用户9/td> | 0 |
仪器种类9/td> | 原子力显微镜 |
样品台移动范围: | 100mm*100mm |
样品尺寸9/td> | 直径?00mm,厚度?0mm |
定位检测噪声: | 0.04 nm (High-resolution mode) |
价格区间9/td> | 产地类别9/td> | 进口仪器 |
1.自动化功胼/span>
高度集成自动化功能追求高效率检
降低检测中的人为操作误
2.可靠?/span>
排除机械原因造成的误?/span>
大范围水平扫
采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果、br/> AFM5500M搭载?*研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试、/span>
高精角度测量
普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因、br/> AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像、/strong>
3.融合?/span>
亲密融合其他检测分析方弎/span>
通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等、/span>
通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄
石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差
SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因
与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中、/span>
高度集成自动化功能追求高效率检浊br /> 降低检测中的人为操作误?br /> 排除机械原因造成的误?br /> 亲密融合其他检测分析方