参考价栻/p>5-10万元
型号
LAP-S270品牌
易仕牸/span>产地
厦门样本
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喷雾激光粒度测定仪,微型激光粒度仪,小型激光粒度仪
LAP-S270喷雾激光粒度测定仪可以满足客户对小型喷雾设备雾滴粒度测试的需求,LAP-S270喷雾激光粒度测定仪采用了独特的一体式结构设计,同时融合了便携式的设计理念,使仪器的性能更加稳定,从而保证了该款仪器同时拥有优越的测试精度及测试重复性、/span>LAP-S270适用于医疗雾化器、雾化药品、各种气雾剂、喷雾剂等小型喷雾设备的雾滴粒度检测。【更多激光粒度仪产品信息欢迎致电厦门易仕特仪器有限公司黄工:17750585159】、/span>
LAP-S270喷雾激光粒度测定仪主要性能特点9/span>
先进的光路设计:
LAP-S270采用了夫琅禾费衍射原理和典型的平行光路设计,并且采用了单光路多镜头技术,独特的高密度探测单元,让LAP-S270拥有了超强的小颗粒测试能力,LAP-S270实现了量程在0.1μm}/span>270μm内进行无缝测试、/span>
大功率光纤输出激光器9/span>
LAP-S270配备了进口大功率光纤输出半导体激光器,性能稳定,寿命高辽/span>25000小时以上,极大增强了仪器的分辨能力,使小颗粒也无处藏身、/span>
光路保护9/span>
LAP-S270具有多重防护功能,测试过程中仪器独有的气流保护,能够有效的防止雾滴溅到镜头上影响仪器的测试效果及使用寿命、/span>LAP-S270在设计上有效避免了外界自然光对测试结果的影响,使得测试结果真实可靠、/span>
超宽量程9/span>
LAP-S270的设计量程达到了0.1μm}/span>270μm,能够满足喷雾设备领域内绝大多数用户的粒度测试需求、/span>
强大的分析软件:
LAP-S270配备了目前国内喷雾粒度仪强大的分析软件,该软件能够快速处理测试过程中所有经过激光束雾滴的光散射信号并转换为粒度分布实时显示。从而有效保证测试结果具有超高的代表性,该项技术在国内处于**?*地位、/span>
主要技术参数:
规格型号 |
LAP-S270 |
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执行标准 |
ISO 13320-1:1999:/span>GB/T19077.1-2008 |
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测试范围 |
0.1μm -270μm |
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探测器通道?/span> |
59 |
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准确性误?/span> |
<3%(国家标准样?/span>D50值) |
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重复性误?/span> |
<3%(国家标准样?/span>D50值) |
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进样方式 |
开放式进样 |
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光路保护 |
仪器具备光路多重保护功能 |
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激光器参数 |
进口光纤输出大功率激光器λ= 650nm, p>10mW |
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测量区长?/span> |
60mm |
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软件功能 |
分析模式 |
包括自由分布?/span>R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等,满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要汁/span> |
统计方式 |
体积分布和数量分布,以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式 |
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统计比较 |
可针对多条测试结果进行统计比较分析,可明显对比不同时间及不同条件下测试结果的差异,对喷射条件、喷射器质量的控制具有很强的实际意义 |
|
自行DIY显示模板 |
用户自定义要显示的数据,根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比,以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等筈/span> |
|
测试报告 |
测试报告可导凹/span>Word?/span>Excel、图片(Bmp)和文本'/span>Text)等多种形式的文档,满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结枛/span> |
|
多语言支持 |
中英文语言界面支持,还可根据用户要求嵌入其他语言界面、/span> |
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智能操作模式 |
真正全自动无人干预操作,无人为因素干扰,您只需按提示喷入待测样品即可,测试结果的重复性更好、/span> |
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操作模式 |
电脑操作 |
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测试速度 |
<1min/欠/span> |
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体积 |
612mm*230mm*325mm |
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重量 |
13Kg |
LAP-S270的设计量程能够满足喷雾设备领域内绝大多数用户的粒度测试需求,同时LAP-S270又加入了科学的防尘处理,故而能够适应各种复杂的测试环境、/span>LAP-S270小巧精致,在粒度仪领域实现了真正意义上的便携,完全能够做到走哪带到哪、/span>LAP-S270集成了目前国内喷雾粒度仪领域先进的一体式结构设计,一体式结构会更加稳定,从而保证了仪器性能的高稳定性。同旵/span>LAP-S270光路还融合了目前先进的防尘防震设计,无论将仪器搬到哪均无需进行光路的二次调整,大大的提高了客户的测试效率。不像某粒度仪生产厂家的喷雾粒度仪产品,每次仪器挪动位置后就要手动调整光路,给测试工作带来诸多麻烦的同时也会大大缩短仪器的使用寿命、/span>
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