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看了CSU200 sic缺陷检测设备的用户又看亅/p>
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csU200 sic缺陷检测设夆/p>
CSU200设备是中科慧远对SiC衬底及外延产品开发的缺陷检测设备。该设备通过显微成像系统和光致发光技术,实现对各类SiC晶片表面及晶体缺陷的检测和分类。该设备可适用于SiC衬底的来料检、出货终检,以及Sic外延的过程检和出货终检、/p>
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GJT-2F系列金属探测?/p>
QY型高纯石英砂检测仪
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系绞/p>
KER-60 哈氏可磨性指数测定仪
介可 AP 快速实验室水分?/p>