看了Pentagon Qlll 表面微粒子计数器表面尘埃粒子理化分析 0.1-5um的用户又看了
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REDEFINE PRODUCTIVITY
?nbsp;Pentagon Technologies QIII是一款用于测量和检测机
技术来实现量测的精确性和机台的稳定性。人的肉眼很隽/span>
看清直径 100um 以下的粒子,这些粒子会快速沉降,
逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上,从耋/span>
减少产品的良率及降低产品的稳定性, QIII ST 表面粑/span>
子检测器测量 0.1~5um )的粒子,对于生产环境的控制
,提升产品的良率都起到了很大的作用,能够帮助企业曳/span>
快捷的实现数据化管理、/span>
BENEFITS
?快速测量表面颗粑/span>
?可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产野/span>
?通过快速识别粒子源,减少故障排除时闳/span>
?可以监测物料,来料,以及Parts上的Particle
?减少PM的周朞/span>
?符合ISO 14644-9表面粒子操作规范
?减少粒子相关故障
暂无数据