光致发光(photoluminescence)即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光＋�/span>

在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长�?25nm�?32nm�?85nm等）

激发材料（如GaN、ZnO、GaAs等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL谱）的测量，

分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构�?/span>

成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法＋�/span>

因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用、�/span>

传统的荧光光谱仪一般采用透镜收光的方式，针对发光非常微弱的纳米材料，

即便用激光器激发，也很难获得较好的信号。结合多年的实际测样经验＋�/span>

良允科仪推出了显微PL系统，采用显微物镜收光，

较传统的荧光光谱仪其收光效率提升了至�?个数量级＋�/span>

因此特别适用于传统荧光系统难以检测到的微弱信号，

另外其辅助的白光成像功能，还可以实现微区（微米级）定位测量�?nbsp;

应用领域９�/span>

· 半导体材斘�/span>

· 纳米材料

· 薄膜材料

· 光波导器仵�/span>

· LD, LED外延牆�/span>

产品特点９�/span>

· 光谱范围�?00-1700nm

· 光斑大小：≤10μm�?25nm激光�?00X物镜（�/span>

· 光谱分辨率：优于0.1nm

· 白光成像分辨率：亚微米级

· 激光器�?66nm�?25nm�?60nm�?05nm�?88nm�?10nm�?32nm�?33nm�?/span>

785nm等可逈�/span>

· 样品台：手动/电动可逈�/span>

· 采谱模式：单点扫�?线扫描可逈�/span>

系统功能９�/span>

· 微区PL测量

· 可同时配置多路激光器

· 自由光路耦合，保障高的通光效率

· 显微光路设计，保障高的激发、收集效玆�/span>

· 高精度位移台，实现微米级定位测量

扩展功能９�/span>

· 微区电致发光（EL）测野�/span>

· 荧光寿命测量：ps-ms量级

· 自动Mapping功能�?0mm×50mm行程，步进精�?μm

· 光电流谱（成像）测量

· 光电材料响应度测诔�/span>

· 变温附件�?7K-600�?4K�?0K超低�?/span>

实测案例９�/span>

样品（粉末）�?%Ag2S/SnS2-ND

激发光源：405nm激光器，积分时间：0.5s：�/span>