WITec公司的alpha300 A原子力显微镜基于研究级光学显微镜而设计，

是一款可靠、高端的纳米成像系统，同时具有优异的光学接入�?/span>

简易悬臂定位与原子级高分辨率。采用高精度陶瓷扫描台及样品台扫描方式，

AFM探针获得样品表面形貌图像、�/span>

该AFM采用光学显微镜配备高端相机，有助于高分辨率的样品挑选与测量、�/span>

同时观测样品与AFM探针非常有利于样品定位及扫描区域调整、�/span>

光学显微镜可实现更多的照明及检测方式，如明暗场，偏光分析及宽场荧光等，

用户可以进一步挑选感兴趣的样品区域。用户只需旋转物镜转盘＋�/span>

就可以在AFM与光学显微镜之间轻松切换，依旧保留光学显微镜与AFM性能、�/span>

关键特�?/span>

纳米尺度的表面表�?/span>

横向分辨率：低至1 nm

深度分辨率：< 0.3 nm

包含多种AFM模式

在空气与液体中均可使�?/span>

独特的悬臂技术，方便的悬臂交换和对准

精确的TrueScan™控制扫描台９�/span>

可选择的扫描范�?0 x 30 x 20µm³;100 x 100 x 20µm³;�?00 x 200 x 20µm³

非破坏性的成像技�?/span>

共焦拉曼成像和近� (SNOM)可在一台显微镜上进行升�?/span>

AFM模式

接触模式

样品扫描时域探针直接接触，通过悬臂梁的倾斜及角度来记录表面形貌

AC（TappingTM 轻敲）模式（又称间歇接触模式（�/span>

抬高模式（Lift ModeTM（�/span>

数字脉冲力模式（DPFM（�/span>

磁力显微镜（MFM（�/span>

测量样品上磁场的一种非接触模式

静电力显微镜

测量静电力显微镜的一种非接触模式

记录并描绘间歇（轻敲（�/span>

模式中的相位偏移信号

纳米操纵/压印

开尔文探针显微镛�/span>

表面势测野�/span>

横向力显微镜（LFM（�/span>

揭示表面摩擦特性的一种接触模弎�/span>

化学力显微镜（CFM（�/span>

测量范德华力等化学相互作用的接触或间歇模弎�/span>

其他模式可逈�/span>