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核心技术:
**光学设计达到业界*低信噪比
**AI影像比对技术,漏检率达?位/p>
结合光学及影像处理技术,在高反光背景材料和透明材料上均能清晰检测待测物
先进性:
采用**双非球面镜头设计,搭配光学系统设计以及AI影像比对技术,显著提升AOI设备3D检测能力,Z轴解析度可达2um,漏检率低?lt;0.3%、/p>
技术完全自主,可根据客户需求针对不同产品检测做定制化设计,协助客户达到高良率与**品质
简介: 核心技术: **光学设计达到业界*低信噪比 **AI影像比对技术,漏检率达? 结合光学及影像处理技术,在高反光背景材料和透明材料上均能清晰检测待测物 先进性: 采用**双非球面镜头设计,搭配光学系统设计以及AI影像比对技术,显著提升AOI设备3D检测能力,Z轴解析度可达2um,漏检率低?lt;0.3% 技术完全自主,可根据客户需求针对不同产品检测做定制化设计,协助客户达到高良率与**品质
品牌 Honhor
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