误差率:
-分辨率:
3eV@Cu Kα1, 8.04keV重现性:
-仪器原理9/p>其他
分散方式9/p>-
测量时间9/p>-
测量范围9/p>-
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球面弯晶谱仪,使用球面弯晶作为衍射分光元件,可以实现⼀维分光,⼀维聚焦成像,广泛应用于软X射线波段 (0.5- 15keV) 的光谱探测,可同时实现很高的亮度和高能谱分辨、/p>
⾃主弯晶器件
⾼分辨率
⾼效玆/p>
⾼亮?/p>
⾼真空兼宸/p>
⼀体化结构
兼容CCD、IP板探浊/p>
具备激光准直系绞/p>
探测⾯⻓度:27.6mm
兼容真空度:5.0×10-3Pa
弯晶半径?00mm
晶体⻓度?0 mm
光谱分辨率:3eV@Cu Kα1, 8.04keV
光谱仪型叶/td> | 能量范围 | 分光器件 | 分辨玆/td> |
XSpeC-Sp-1 | 1.4-1.6keV | PET晶体 | 3-10ev |
xSpeC-SP-2 | 6.3-7.2keV | Si531晶体 | 3-10eV |
xSpeC-sp-3 | 7.9-9keV | Ge620品体 | 3-10ev |
暂无数据