参考价栻/p>面议
型号
透射式晶体谱?/span>品牌
创谱仪器产地
安徽样本
暂无分散方式9/p>-
测量时间9/p>-
测量范围9/p>-
误差率:
-分辨率:
优于100eV@20keV重现性:
-仪器原理9/p>其他
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透射弯晶谱仪,利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置,同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征,特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断、/p>
透射弯晶谱仪,利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置,同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征,特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断、span style="background-color: rgb(223, 235, 249); color: rgb(0, 85, 184); font-size: 20px;">产品特点/ CHARACTERISTIC
⾃主弯晶器件
⾼能谱分?/p>
宽能谱范図/p>
可切换式探测模组
全谱直读
可切换式激光准直系绞/p>
光学系统结构: 透射弯晶系统
分光器件 α-Quartz<10-11>
能量分辨率: 优于100eV@20keV
探测器类型: 可切换式IP松/p>
激光器切换重复精度 ±10μm
光谱仪型叶/td> | 特点 | 能量范围 | 分光器件 | 分辨玆/td> |
xSpeC-Laue-1 | 常规欽/td> | 10-100keV | a-Quartz<10-11> | 优于100eV@20kev |
xSpeC-Laue-2 | 高分?/td> | 20-120keV | a-Quartz<10-11> | 优于50eV@20keV |
xSpeC-Laue-3 | 紧凑垊/td> | 20-80keV | a-Quartz<10-11> | 优于100eV@20keV |
暂无数据