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场发射环境扫描电子显微镜品牌
石墨烯研究院产地
北京样本
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型号９/span>美国FEI Quattro S
功能９/span>用于材料表面、断面形貌观察，微区成分定性定量分析、/span>
技术参数：
﹠/span>分辨率：1.0nm?0KV, SE（/span>
﹠/span>附件：X射线能谱?/span>（EDS（/span>、电子背散射衍射?/span>（EBSD（/span>
﹠/span>放大倍数９/span>300万倌/span>
暂无数据
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