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SM303 TE薄背弎/span>CCD 光谱?/span>
科研级高性能
极低的暗噪声和杂散光
宽的动态范围和高的信噪
高紫外量子效
灵活的光纤输入直接到狭缝或通过光纤
广泛的应用设
高速数据采
标准设计允许*?00-1050nm范围
应用:
光谱产品将提供新的SM303 TE致冷薄型背照?024像素的CCD阵列光谱仪
SM303是理想的UV / VIS/ NIR光谱法,需要非常高的信噪比?或高动态范围,像荧光,拉马,LED特性测试的应用程序。的薄型背照式CCD具有在紫外线极好的灵敏度并允许深UV应用。精心设计的外壳使为?00纳米?050nm(较小的测量窗口尺寸增加光谱分辨率和光敏感)具有非常低的杂散?50nm的测量窗口。的TE制冷detecor也有助于通过减少在长积分时间的噪声电平来测量非常低的光信号
高动态范围和低噪音的SM303也是理想的辐射测量应用选择
标准接口SM303-Si?6位在USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括SDK和DLL的专用应用程序的开发,我们的SM32Pro基于Windows的光谱采集和分析软件
软件:
SM32Pro - 视窗95?000,XP?的软件(支持32位和64位)进行数据采集和分析透射率,反射率,和吸光度测量
数据导出,放大和缩小,频谱覆盖,还有更多的功
包括彩色分析工具
信号平均和积分时间控
可在DOS和Windows用户方便的软件开发DLL
用VC+ + / VB/ Labview的例孏/p>
暂无数据