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工作原理
激光剥蚀技?/span>LA及激光诱导击穿光谰/span>LIBS相结合，J200接收等离子体发射光进行快速光谱分析，同时将激光剥蚀颗粒高效传输臲/span>ICP-MS系统、/span>
主要特点９/span>
J200具有LA咋/span>LIBS双系统测量能力，可以单独运行LA戕/span>LIBS，或者同时运衋/span>LA- LIBS复合系统。激先/span>fs戕/span>ns可选、/span>
样品自动对焦、高度自动调整、光斑大小调节、/span>
可对固、液、气样品进行全元紟/span>LIBS快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒或者液体样品直接送入ICP-MS系统，实?/span>ppb级精确分析、/span>
可用于分析元素周期表中的所有元素、/span>
ASI数据分析软件可在一个数据分析平台进行，分析LIBS咋/span>LA数据；可进行快速映射功能、/span>
应用领域
复杂样本的定性和定量分析
制造质量控刵/span>:制药、生物技术、电子、太阳能、薄膜等
污染控制
土壤、植物和矿物分析
玻璃、油漆和其他痕迹证据的法医分枏/span>
材料来源确定
学术界、政府和商业企业研究和实验室分析
性能指标
激光系绞/span> |
|||
**能量 |
25mJ@ 266nm；能量输 0-100%可调 |
重现玆/span> |
20Hz，脉宼6ns(FWHM)，DI 水冷却系绞/span> |
能量控制 |
光学衰减连续可变 |
光斑大小控制 |
35-250 微米可调(到达样品表面的烧蚀光斑直径) |
激光光闷/span> |
自动双光闸，稳定控制激光能量和 LIBS 信号测量 |
激光安?/span> |
I 级，样品放置区域有滤光器，有激光锁定保抣/span> |
检测器系统 |
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谱宽190-1040 nm |
测量过程不不受环境温度变化的影响 |
分辨?#955;/高达 6000 |
光谱精度优于0.05nm |
杂散光抑刵/span> |
探测器门?/span> |
门延旵/span>丹/span>0.5ns-1ms |
分辨 0.5 ns |
样品平台系统 |
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全自 XYZ 行程 |
XY 行程 100mmx100mm，Z 行程 35mm |
XY 行程分辨 0.2um，Z 行程分辨 0.2um |
XY 行程重现 0.2um，Z 行程重现 0.2um |
速度 0.001-20 mm/s |
气压可控 |
样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护功胼/span> |
含高效空气颗粒清洁器 |
具备专配 670 纳米激光协助样品高度自动调整功胼/span> |
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CMOS 相机，广角用于定位采样区域，高倍成像用于观察某一特定区域。并可在电脑屏幕上实时观察样品烧蚀过程 |
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样品?可充氦气或氩气惰性气体保抣锂电池样品需要保持在无水，无氧的条件下进行测量。测量碳，氮，氧，氢，氟等元素时;样品池需要保持在氦气气氛中、/span> |
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操作软件 |
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激光自动采样设?/span> |
单点、网格、光栅状、线性扫描或用户自定义设?/span> |
数据处理系统 |
包含谱线自动识别功能、光谱处理功能、LIBS 的强度监测、化学统计功能等 |
元素制图及深度分析控刵/span> |
包含84种元素的Trulibs?光谱数据库和LIBS NIST 理论数据库（涵盖所有元素） |
设置预脉冲个数用来清洗样品表面污染物 |
高度自动化的测量功能 |
元素特征线的自动标定、标准曲线建立（单变量和多变量校准曲线）、主成分回归功能可用于样品分籺/span> |
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暂无数据
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