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Horiba X射线荧光分析仪可快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外,通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面,选取所需要的测试点,操作简单
Horiba X射线荧光分析仪技术参数:
Pb/Hg/Cd/Br检出下?ppm Cr检出下?ppm
使用1.2mm/3mm X射线导管**技术(XGT)实现微小区域的高灵敏度分析
采用大型试样室(460X360X150㎜)
试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等,并实现无损检
可使用CCD照相机(50倍)指定试样的位 (业?*。X射线?光学同轴照射
测定可一键实现简单操
自动元素干扰修正、厚度补
数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功胼/p>
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