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分析原理 | 能量色散X射线荧光分析泔/p> | ||
分析元素 | Si~U(Cd/Pb高精度型) Na~U(1.2 mm/3 mm切换方式? | ||
检出下?Cd/Pd) | Cd? ppm Pb? ppm Cl?0ppm | ||
样品形状 | **460360 mm(?50 mm) | ||
样品室气氚/p> | 大气 | ||
X射线箠/p> | 靶材 | Rh | |
管电厊/p> | **50 kV | ||
管电?/p> | **1 mA | ||
X射线照射徃/p> | 3 mm (同时搭载?#966;1.2mm ) | ||
检测器 | 高纯硅检测器 XEROPHY | ||
液氮罐容野/p> | 3卆/p> | ||
液氮消耗量 | 每日1升以?不开机时不用) | ||
光学图像观察 | 倍率 50?X射线同轴) | ||
软件 | 定性分析:自动定性或手动定?/p> | ||
定量分析:检量线泔/p> 照射直径3mm旵/p> 基础参数 (1)标准 (2)1点校止/p> | |||
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计算朹/p> | CPU | Pentium IV 1.8 GHz 以上 | |
内存 | 1GB 以上 | ||
硬盘 | 120 GB 以上 | ||
OS | Windows XP | ||
监视?/p> | 17 CRT(任选:17 LED) | ||
打印朹/p> | 彩色喷墨打印朹/p> | ||
周围温度 | 10?5 ?性能温度)/ 5?0 ?动作温度) | ||
周围湿度 | 5?1 ℃时温度范围?*相対湿度80 %以下 31?0 ℃时温度范围:相対湿?0 %以下 | ||
电源 | AC 100 V?20 V?20 V?40 V 10 %?0/60 Hz | ||
消耗电劚/p> | 1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机) | ||
设备重量 | 265 kg(不含桌子、计算机) | ||
外形尺寸 | 分析单元 | 610(W)750(D)500(H)mm | |
信号处理单元 | 220(W)500(D)480(H)mm |
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