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看了四探针测试系统(for 300/450mm wafer)的用户又看亅/p>
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产品简介:
该款设备是一种用于测量硅片和太阳能电池片电阻和电阻率的系统。该系统是为便于个人计算机操作而设计的,具有多种数据分析、绘图等功能.
产品特点9/span>
- X,Y,Z轴全自动系统
- 自动范围选择
- 300/450 mm晶片和太阳能电池系统
-通过操作软件完善远程控制
- 数据分析(2D?D地图/数据地图/趋势图等)
- ASTM SEMI 测量模式
暂无数据
产品质量
售后服务
易用?/p>
性价毓/p>
高压等温吸附?/p>
耶拿RXN系列原位在线拉曼光谱分析?/p>
可视化监控系 NT
干燥机控刵/p>
废袋收集?/p>