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系统说明９/strong>OLED多片式IVL测试系统应用于大批量测试IVL 性能曲线以及在视角变化过程中亮度的变化。主要面向OLED 材料制作和OLED 屏体的生产厂商、/p>
一?strong>系统原理
二、系统特炸/strong>
灵活多片弎/span>
大视角测野/span>
CCD 自动对位系统
系统高度集成
温度控制单元（选配（/span>
三、设备系统实物展礹/strong>
四、测试项?/strong>
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