典型应用

各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括９�/span>

分立和无源元仵�/span>

� 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金� 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二� 管、电容、热敏电阺�/span>

� 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等

简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传� 器、转换器、稳压器

集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI� � 模拟IC

� 射频集成电路（RFIC（�/span>

� 专用集成电路（ASIC（�/span>

� 片上系统（SOC）器仵�/span>

光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器

圆片级可靠�?/span>

� NBTI、TDDB、HCI、电迁移

太阳能电江�/span>

电池

更多�?/span>

一� 通用设置

1. NPLC2. 接线方式�?�?线制�3. 自动调零4. 滤波

二� 单阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Single�

三� 单阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Single�

四� 多阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Steps�

五� 多阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Steps�

六� 分段电流扫描（SweepIMeasureV-Section�

七� 分段电压扫描（SweepVMeasureI-Section�

八� 连续电流扫描测量（SweepIMeasureV-Continuity�

九� 连续电压扫描测量（SweepVMeasureI-Continuity�

十� 双通道电流同步扫描（Dual-SweepIMeasureV�

十一� 双通道电压同步扫描（Dual-SweepVMeasureI�

十二� 波形输出-正弦波（Wave-Sine�

十三� 波形输出-方波（Wave-Square�

十四� 电化�?循环伏安（Cyclic voltammetry）测野�/span>

十五� 电化�?多电流跃阶测量（Multi-Current Steps�

十六� 电化�?多电位跃阶测量（Multi-Potenital Steps�

十七� 太阳能电池IV特性测量（Solar Cell IV�

十八� 双通道恒流恒压测量（Dual Channel IV�?

十九� 直流FET-转移曲线测量（DC-FET-Transfer�

二十� 直流FET-输出曲线测量（DC-FET-Output�

二十一� 脉冲FET-转移曲线测量（Pulse-FET-Transfer�

二十二� 脉冲FET-输出曲线测量（Pulse-FET-Output�

二十三� 直流FET栅极方波曲线测量（DC- FET- Gate- Square Wave�

二十四� 流FET漏极方波曲线测量（DC- FET- Drain- Square Wave�