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高频特性阻抗测试仪ZK2130是采用时域反射技术设计的,能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗,并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案
数据统计分析功能 SPC功能模块
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成都精新 JB-5比表面积测试?/p>
JW-DX动态氮吸附比表面测定仪
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