看了椭偏仪的用户又看亅/p>
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SpecEl-2000-VIS椭偏?/strong>通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。波长范?00-900nm。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量、/p> SpecEl由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70的偏光器构成,并配有一?2位操作系统的PC.?strong>椭偏?/strong>可测?.1nm-5um厚的单膜,分辨率0.1nm,测量时?-15秒,并且折射率测量可?.005%、/p> 集成的精确测量系绞/h2>
配置说明
波长范围: 380-780 nm (标准) ?50-900 nm (可? 光学分辨玆 4.0 nm FWHM 测量精度: 厚度0.1 nm ; 折射 0.005% 入射觑 70 膜厚: 单透明?-5000 nm 光点尺寸: 2 mm x 4 mm (标准) 200 ?m x 400 ?m (可? 采样时间: 3-15s (*? 动态记彔 3 seconds 机械公差 (height): +/- 1.5 mm 角度 +/- 1.0 膜层? 至多32屁/td> 参耂 不用
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