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［SFT-110的主要特征］
1. 通过自动定位功能提高操作 测量样品时，以往需花费?0秒的样品对焦，现?秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性、/p>
2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1?.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度、/p>
3. 多达5层的多镀层测 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多??0元素的多镀层测量、/p>
4. 广域观察系统（选配 可从**250200mm的样品整体图像指定测量位置、/p>
5. 对应大型印刷线路板（选配 可对600600mm的大型印刷线路板进行测量、/p>
6. 低价 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格、/p>
［主要产品规格］ |
|
检测器 |
比例计数箠/p> |
X射线溏/p> |
空冷式小型X射线箠/p> |
准直?/p> |
0.1?.2mm2秌/p> |
样品观察 |
CCD摄像夳/p> |
样品台移动量 |
250（X?#215;200（Y）mm |
样品**高度 |
150mm |
暂无数据
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