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美国样本
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美国Microvision System成立?993年,是全球显示器测试系统的主要供应商,可以检测FPD CRT,PLASMA HDTV OLED HUD HDD投影机等,应用于R&D QC及工业测试。Microvision System以技术先进的产品及完善的售后服务,赢得用户的尊敬、/strong>
系统功能说明9/span>
Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420,使用一组抵用平台和控制电脑,经由专业控制软件,进行显示器光学特性的自动测量和分析、/strong>
LCD显示器测 OLED显示器测 亮度测试 色彩均匀度测 伽马测试 视场角测 消光系数 灰度转换时间
SS445大屏幕显示屏测量系统
系统简介:
SS445是一款显示屏测试系统专门设计于测量大屏幕显示屏。这个包括了投影显示屏高达电影院屏幕的尺寸,来自于任何一个现有的投影引擎技术、/span>
系统采用了电动Pan & Tilt机械实现移动到所要的测试位置。系统配置了1.4MP CCD相机?或者一个衍射光栅光谱仪、/span>
在操作中,系统是固定在显示屏的前方进行测试的。模式发生器或者Microvision的MVRemote是用于自动显示测试模式或者有需要的话可通过客户的系统生成图像、/span>
SS445专门设计于从观察器的角度来测量显示屏,由于是真实可见的因此能更好地测量出显示屏的性能。完全定义显示屏可快速地测量出多个观察器的位置。操作员进入到所要的测试位置(X和Y或者像素坐标),测试可实现全自动化,并且系统会自动找到以及在这些位置运行所要进行的测试
测试性能9/span>
SS445的测试性能包括了大型显示屏的所有类型测试 这些系统的性能都由安装了什么传感器来决定的(相机和/或者光谱仪)。总的可测试参数如下:
CCD相机9/span>
- MTF
- 线宽
- 几何国/span>
- 收敛测量
- 亮度均匀?/span>
- Jitter Swim Drift
- 伽马/灰阶
光谱?/span>
- 亮度
- 色度和色?/span>
- 亮度和色彩均匀?/span>
- 频谱国/span>
- 伽马
- 对比?/span>
- 色差
SS445 规格参数9/span>
Pan&Tilt组件
- 分辨率:0.0032
- 承载性能9/span>9 lbs
CCD相机
- 图像传感器:1392x1040 pixels
- 数字视频9/span>12-Bit
- 元素尺寸9/span>6.45 m square pixels
- 同步9/span>Synchronous Capture
- 视场9/span>20mm @ 1m adjustable
- 工作区域范围9/span>0.5 to 3.5 meters
- 数字变焦9/span>Up to 32X
- 亮度精度9/span>+/- 4% @ 2856k
- 亮度范围9/span>0.05 to 106 cd/m2 with ND Filters
- 测量时间9/span><1 sec for most measurements
光谱?/span>
- 波长范围9/span>380 to 780nm (1000nm opt)
- 亮度范围9/span>0.01 to 500K cd/m2
- 亮度精度9/span>+/-3% @ 2856 illuminant A
- 亮度重复率:RSD over 30 minutes < 0.5%+/span>0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD
- 色彩精度9/span>+/- 0.002 @ 2856K
- 色彩重复率:+/- 0.0005 @ 2856K
- 集成时间9/span>16.7 5000 msec (sync@60hz)
- 温度控制9/span>Computer Controlled
- 光学9/span>12mm Collimated
- 接受角度9/span>1.5
- 光学分辨率:3.8nmFWHM @ 100m slit
- 校准9/span>NIST Traceable
- 操作温度9/span>5 to 30C
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