成像系统

　　SOC710SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器，光谱范围�?00nm�?700nm、�/span>

　　SOC710SW具有高光谱分辨率 (5 nm)� 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测� (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W)，使得SOC710SW可以14-bit同时收集640像素�?28个波段的光谱信息。这保证了所有应用里，获得的�?*质量数据、�/span>

使用简单和实时处理

　　SOC710SW是一个完整的系统，开箱之后即可使用、�/span>

　　系统采用SOC的HyperSpect? 操作软件和HSAnalysis?校准和分析工具进行标定和使用前设置、�/span>

　　数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件、�/span>

　　可选的SOC MIDIS?处理器以**的电脑速度快速执行光谱处理，克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈、�/span>

　　MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分，使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题、�/span>

　　配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统，SOC-710SW通过高速USB接口可以记录900nm�?700nm光谱范围内�?nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W�?550nm）、�/span>

　　SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据，可以很容易的用第三方分析软件打开，如ENVI软件。无须数据格式转换、�/span>

技术参数：

光谱范围９�/span>	900-1700 nm
光谱分辨率：	5 nm
光谱通道９�/span>	128
光谱失真９�/span>	<1.5 microns (smile)
数字光圈９�/span>	F/2.4
TFOV/IFOV (35MM)９�/span>	10��/0.015625��
分辨�?像素)９�/span>	640x640 (nominal)
LINE RATE９�/span>	30 Spatial Lines/Second
CUBE RATE９�/span>	20 Seconds/Cube
数字分辨率：	14-bit

三脚架：	3/8�?16
计算机接口：	USB2.0
扫描９�/span>	内置
供电９�/span>	AC/12DV
重量９�/span>	10 lbs.
尺寸９�/span>	5”x8”x11“�/span>

应用领域９�/span>

机械视觉 　　电子学和塑胶 　　晶片检�?/span> 　　农业品质 　　化学过程控制 农业领域 　　精准农业 　　土地分类 　　水份胁迫 　　作物健康

温度记录 　　火点监测 　　玻璃检浊�/span> 　　金属纯度 军事 　　ISR 　　边境安全 　　导弹跟踪 医学领域 　　血糖分枏�/span> 　　X线断层摄影术