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Aep Technology台阶?/strong>
厚度47nm 标准样品,三次重复测量结果叠 (无任何减噪修正,原始数据输出 500um扫描 2um探针
NanoMap-PS2是一款专门为nm级薄膛/span>测量研发皃/span>无需防震?/span>即可测量的接触式台阶?/strong>
AFM同款位移传感器,超高精度
压电陶瓷驱动扫描?*无内源振?/span>
自集成主动反馈式防震系统
真正无需额外辅助防震系统,实现高重复性纳米测野/span>
纳米量级科学研究的必备产?/span>
NanoMap-PS2 台阶?/strong>可以应用在半导体,光?太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面,自动测量深受广大客户欢迎、/span>
测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产?低的。垂直分辨率可达0.1nm 可测表面,包括透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料,金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等:/span> AEP的技术日新月异 欲了?*的产品性能参数,请与我们联系、/span>主要参数 :
垂直分辨 0.1nm
垂直**量程 1000um探针接触 0.03mg-100mg
平台范围 直径150毫米(可?00毫米或更大)高清图像 4级放大,彩色CCD成像光源 双长寿命强光LED
金刚石探 0.5um 25um 可逈/span>
台阶?/strong>,膜厚仪,膜厚测量,半导体,薄膜,沟槽,MEMS,深度,太阳能薄膜,LED,OLED薄膜,接触式台阶?/strong>,高精度的台阶高度,半导体薄膜厚度测量,太阳能电池薄膜厚度,沟槽深度,线宽,便携式,桌面垊/span>
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