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开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表?顶部皃/span>1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具月/span>1-3 meV业界**分辨率的测试系统、/span>
特点**的功凼/span>/表面电势分辨率：1-3meV＇/span>2mm探针（/span>与压电系统相比采用音圈驱动具有很高的驱动噪声抑制过零信号检测系统极大的提高了分辨率，信噪比性能****测试和扫描时探针尖与样品的高度调节功能可得到稳定的、可靠的和重复的结果探针参数全部采用数字控制
系统参数 2mm and 50m探针功函分辨玆/span>1-3meV＇/span>2mm探针），5-10meV＇/span>50m探针，光学防震台（/span>手动高度控制＇/span>25.4mm KP平移（/span>跟踪系统自动控制样品和探针距禺/span>过零信号检测系统抑制寄生电宸/span>软件性能数字控制所有开尔文探针参数简单的信号优化设置过程快速测量模式用于跟踪实时功函变匕/span>(1000points/min at ~20meV分辨玆/span>)选件样品加热?/span>Sample Heater
可升级至扫描系统可升级至RHC系统表面光电压模坖/span>SPV020 and SPS030
镀金探钇/span>
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