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美国样本
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虚拟号将 180 秒后失效
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Amptek获得**的 C系列 X射线窗利用氮化硅(Si3N4)和铝涂层来将我们的硅漂移检测器(SDD)的低能量响应扩展到硼(Be(/span>、/span>
C1 Windows:实验室,台式和手持式仪器、/span>
C2 Windows:扫描电子显微镜(SEM)中的真空应用程序和EDS(EDX)。C2窗在*低能量下具有更高的效玆/span>
C2窗FASTSDD测试Be和C谱图
C2窗与聚合物窗效率对比
FASTSDD典型分辨玆/p>
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