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XRF9能量色散X射线荧光分析?/strong>
nXRF9能量色散X射线荧光分析?/strong>器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器、/p> nXRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品,广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理、/p> (注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析、/p> 产品特点 n先进的多光束可调系统 n具有高分辨率的探测器 n采用XYZ三维样品?/p> n大型样品分析宣/p> nCCD摄像及自动定位系绞/p> n自动调节双层六通道滤光系统 n完善的辐射安全防抣/p> n强大功能的软件操作系绞/p> n短时间多元素同时分析 n无损分析和先进的薄样分析技术相组合 n多种定量分析方法 n无需液氮和水循环冷却 n种类齐全的选配标准样品 nRoHS/WEEE指令快速分枏/p> 仪器配置 n外形尺寸?50(L?#215;590(W)715(H)mm3 n样品室尺寸:400(L?#215;100(W)100(H)mm3 n主机质量:约45Kg n工作环境温度9span>0~40oC n工作环境相对湿度:≤80% n元素分析范围:AI-U n含量分析范围?ppm~99.99% n重复性:?% n测量时间:一?0~300s n测量对象:块状物体、粉末、液佒/p> n激发功率:50W n探测器分辨率?49gev n输入电源:AC110V/220V n高压电源?~50kv/0~1mA nX射线辐射剂量:≤1Sv/h 代表性元?20s*低检出限LOD(mg/kg) 性能指标 塑料基体 Cr Br Cd Hg Pb LOD 8 2 4 4 5
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