CCD 光电性能测量系统又称CCD成像电子学系统光电联试定量测试设备。本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题；同时能够在业界对光电成像器件抗辐射性能评价的标准化和规范化起到积极推进作用�

技术指栆�/strong>

• 工作光谱波段�?80nm~1000nm

• 光谱分辨率：20nm~40nm

• A/D 量化等级�?4bit

• 动态范围：80dB

• 测量**值不确定度：低于8%

• 重复性误差：不大�?%

测试内容

• 饱和输出电压（SV)

• 饱和曝光� （SE)

• 光辐照响应度（灯光照明下的R)

• 相对光谱响应� Rs

• 响应度非均匀性（PRNU)

• 电荷转移效率（CTE)

• 光谱和白光传递函数（MTF)

• 暗信� （DS)

• 暗噪� （v_NOISE)

• 噪声等效曝光量（NEE)

• 动态范� （DR)

• 非线性度 （NL)

• 固态图片噪� （FPN)