红外双折射分布测量设夆�/span>

WPA-NIR

主要特点

l红外波长的双折射/相位差面分布测量

l硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估

l小型、簡単操作、高速測野�/span>

WPA-NIR能高速的浊�/span>野�/span>/分析泡�/span>长为850nm戕�/span>940nm的双折射分布

安装既有的操作简单和实用的软仵�/span>WPA-View

可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数�?/span>

可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现圹�/span>

WPA-NIR的功胼�/span>

1.高速测量面的双折射/相位差分市�/span>

NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信�?/span>

2.测量数据的保字�/span>/读取

全部的测量结果都可以做保字�/span>/读取。易于跟过去的测量结果做比较筈�/span>

3.丰富的图形创建功胼�/span>

从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图、�/span>复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出

主要技术参�?/strong>

型号	WPA-NIR
测量范围	0~425nm(光源波长�?50nm)0~470nm(光源波长�?40nm)
重复�?/p>	<1.0nm
像素�?/p>	384*288 pixels
测量波长	850nm or 940nm
尺寸	200x220x313mm
自身重量	5kg