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1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定?/strong> 型号:KDK-KDY-1A
概述
便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器、/p>
本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定、/p>
它主要由电器测量部份(主机)及四探头组成,需要时可加配测试架、/p>
为减小体积,本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1?00?cm标准样片的测量瓿差不超过3%,在此范围内达到国家标准机的水平、/p>
测量范围9/p>
可测 电阻率:0.01?99.9?cm、/p>
可测方块电阻?.1?999/叢/p>
当被测材料电阻率?00?cm数字表显?.00、/p>
?)恒流源9/p>
输出电流:DC 0.1mA?0mA分两桢/p>
10mA量程?.1?mA 连续可调
10mA量程?mA ?0mA连续可调
恒流精度:各档均优于0.1%
适合测量各种厚度的硅牆/p>
? 直流数字电压?/p>
测量范围??99.9mv
灵敏度:100v
准确度:0.2%?#177;2个字(/p>
? 供电电源9/p>
AC?20V 10% 50/60HZ 功率8W
? 使用环境9/p>
相对湿度?0%
? 重量、体?/p>
重量?.2 公斤
体积:宽210?00?40(mm(/p>
?)KD探针夳/p>
压痕直径?0/50m
间距?.00mm
探针合力?1N
针材:TC
2:数字式硅晶体少子寿命测试 型号:KDK-LT-100C
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量,特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪
寿命可测范围 0.25S?0ms
温馨提示:以上产品资料与图片相对应、/strong>
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