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产品性能:
少子寿命测试仪性能参数
测量原理 QSSPC(准稳态光电导);
少子寿命测量范围 100 ns-10 ms:/p>
测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析;
电阻率测量范围: 3?00 (undoped) Ohms/sq.:/p>
注入范围?013-1016cm-3:/p>
感测器范围: 直径40-mm:/p>
测量样品规格 标准直径: 40?10 mm (或更小尺寸);
硅片厚度范围 10?000 m:/p>
外界环境温度 20C?5C:/p>
功率要求 测试? 40W 电脑控制器:200W ,光源:60W:/p>
通用电源电压 100?40 VAC 50/60 Hz:/p>
主要特点:
适应低电阻率样片的测试需要,*小样品电阻率可达0.1ohmcm
全自动操作及数据处理
对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理
能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅?/p>
可以选择测试样品上任意位?/p>
能提?*的表面化学钝化处理方泔/p>
对各道工序的样品均可进行质量监控9/p>
硅棒、切片的出厂、进厂检?/p>
扩散后的硅片
表面镀膜后的硅片以及成品电江/p>
少子寿命测试?/strong>
技术参数:
FAQ:
用途、光伏,硅片检浊/p>
包装、纸质包裄/p>
售后服务:一年保修,终身维护
用途、光伏测诔/span>
包装、纸质包裄/span>
售后服务
一年保
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