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博曼L系列产品概述９/span>
L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件，L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量 封闭式样品仓可容?2"x22"x24"（LxWxH）的样品。XY平台的行程为13"x10"、/span>
标准配置包括一?位置多准直器组件，以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机 与其他型号一样，准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制 包括可编程的XY平台，为了满足更大样品测测量，XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器，可升级为高性能SDD探测器、/span>
博曼L系列可满足以下类型用户的需求：
- 样品的长宽高分别超过12"但小?4"
- 需容纳多个样品进行自动化多点测野/span>
- 可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项?/span>
- 符合IPC-4552A
博曼L系列产品参数９/span>
类别 |
参数 |
元素测量范围９/span> X射线管： 探测器： 分析层数及元素数９/span> 滤波?准直器： 焦距９/span> 数字脉冲器： 计算机： 相机９/span> 电源９/span> 重量９/span> 可编程XY平台９/span> 样品仓尺寸： 外形尺寸９/span> |
13号铝元素?2号铀元素 50 W?0kV?mA）微聚焦射线箠/span> 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层，每层可分?0种元素，成分分析*多可分析25种元紟/span> 4位置一次过滤器/4种规格准直器 可变?/span> 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔， 酷睿 i5 3470 处理 (3.2GHz) 8GB DDR3 内存 微软 Windows 10 专业版， 64佌/span> 1 / 4"CMOS-1280720 VGA分辨玆/span> 150W?00-240V，频率范围为47Hz?3Hz 110kg 平台尺寸?0"x 10"| 行程?0"x 10" 高度?80mm?1"），宽度?50mm?2"），深度?00mm?4"（/span> 高度?50mm?0"），宽度?00mm?8"），深度?50mm?0"（/span> |
关于美国博曼９/span>
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有?0年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）、/span>
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移动?/p>
工商已核宝/p>
