看了博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪O系列的用户又看了
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博曼O系列产品概述9/span>
O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器,在短时间内捕捉并处理大量数据,在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果(准确性和重复性)、/p>
该系列采?0m毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数,拥?5x视频放大?x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近,所以使用时样品必须平整、/span>
博曼O系列可满足以下类型用户的需求:
- 极小的样品,如半导体,连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 需要测量非常薄的涂层(<100nm(/span>
- 需要在短时间内完成测量?-5秒)
- 符合IPC-4552A
博曼O系列产品参数9/span>
类别 |
参数 |
元素测量范围9/span> X射线管: 探测器: 分析层数及元素数9/span> 滤波?准直器: 焦距9/span> 数字脉冲器: 计算机: 相机9/span> 电源9/span> 重量9/span> 可编程XY平台9/span> 样品仓尺寸: 外形尺寸9/span> |
13号铝元素?2号铀元素 50 W钼钯射线 80um毛细管光学结枃/span> 135eV及以上分辨率的硅漂移探测?/span> 5层(4?基材 每层可分?0种元素,成分分析*多可分析25种元紟/span> 2位置一次过滤器 固定焦距?.1"(/span> 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理 (3.2GHz) 8GB DDR3 内存 微软 Windows 10 专业版, 64佌/span> 1 / 4"CMOS-1280720 VGA分辨率,250X双摄像头?5X单摄像头 150W?00-240V,频率范围为47Hz?3Hz 53kg 平台尺寸?5"x 13"| 行程?"x 5" 高度?40mm?.5"),宽度?10mm?2"),深度?40mm?3"(/span> 高度?50mm?8"),宽度?50mm?8"),深度?00mm?4"(/span> |
关于美国博曼9/span>
美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有?0年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)、/span>
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