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博曼P系列产品概述9/span>
P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量、/p>
标准配置包括一?位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的、/span>
博曼P系列可满足以下类型用户的需求:
-小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 期望在多个样品上实现自动测量
- 样品尺寸和应用经常变匕/span>
- 符合IPC-4552A
博曼P系列产品参数9/span>
类别 |
参数 |
元素测量范围9/span> X射线管: 探测器: 分析层数及元素数9/span> 滤波?准直器: 焦距9/span> 数字脉冲器: 计算机: 相机9/span> 电源9/span> 重量9/span> 马达控制/可编程XY平台9/span> 延伸可编程XY平台9/span> 样品仓尺寸: 外形尺寸9/span> |
13号铝元素?2号铀元素 50 W?0kV?mA)微聚焦钨钯射线箠/span> 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层, 每层可分?0种元素,成分分析*多可分析25种元紟/span> 4位置一次过滤器/4种规格准直器 可变?/span> 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理 (3.2GHz) 8GB DDR3 内存 微软 Windows 10 专业版, 64佌/span> 1 / 4"CMOS-1280720 VGA分辨玆/span> 150W?00-240V,频率范围为47Hz?3Hz 32-50kg 平台尺寸?5"x 13"| 行程?"x 5" 平台尺寸?5"x 25"| 行程?0"x 10" 高度?40mm?.5"),宽度?10mm?2"),深度?35mm?3"(/span> 高度?50mm?8"),宽度?50mm?8"),深度?00mm?4"(/span> |
关于美国博曼9/span>
美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有?0年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)、/span>
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