扫描电迁移率粒径谱仪

SMPS+C咋�/span>SMPS+E双系绞�/span>

GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器＇�/span>DMA（�/span>和凝聚核粒子计数�?span>＇�/span>CPC（�/span>技术结合，两种不同型号皃�/span>DMA可以同时检浊�/span>5�?50纳米戕�/span>10�?100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同，可以选配移动式：CPC 5403，实验室固定式：CPC 5416戕�/span>19英寸标准机柜式：CPC 5421、�/span>系统每次开机时，自动自检以确保系统准确性，自检内容包括泄露测试�?/span>DMA型号确认�?/span>DMA电压测试�?/span>CPC状态检查等、�/span>自检通过后，软件自动控制采样、测量和数据记录、�/span>

测量参数SMPS+C

1.检测粒径范围：5-350纳米＇�/span>M-DMA）；

10-1100纳米(L-DMA)

2.检测浓度范围：0--10⁸/cm³

3.粒径通道�?夙�/span>255通道

4.CPCD₅₀粒径９�/span> 4纳米

5.CPC响应时间９�/span> 4科�/span>

GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级�?span>＇�/span>DMA（�/span>和法拉第静电讠�span>＇�/span>FCE（�/span>技术结合，配合3种不同的DMA，粒径检测下限可以低臲�/span>1纳米，检测数量浓度高辽�/span>10⁹�?/span>/cm³、�/span>