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使用Park NX10在nature上发表的论文有：
1）Probing charge screening dynamics and electrochemical processes at the solid–liquid interface with electrochemical force microscopy
2）Effect of pH on the structure and drug release profiles of layer-by-layer assembled films containing polyelectrolyte micelles and graphene oxide
3）Electrostatic-free piezoresponse force microscopy
4 Highly Permeable Graphene Oxide Polyelectrolytes Hybrid Thin Films for Enhanced CO 2N 2 Separation Performance
5 Surface Engineering for Mechanical Enhancement of Cell Sheet by Nano-Coatings
6）Polymorphic design of DNA origami structures through mechanical control of modular components
7）Micro 3D Printing of a Temperature- Responsive Hydrogel Using Projection Micro-Stereolithography
8）Nanostructured Polymer Thin Films Fabricated with Brush-based Layer-by-Layer Self-assembly for Site-selective Construction and Drug release
9）Origin of macroscopic adhesion in organic light-emitting diodes analyzed at different length scales
纳米科学研究?*途径
Park NX10为您带来**纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析，Park NX10都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据、/span>
在SmartScan Auto独有的智能模式下，系统自动执行所有必要的成像操作，同时智能选择**的图像质量和扫描速度。这是通过Park?*技术才得以实现的。它不仅可以为用户节省时间和成本，还可以为用户带?*的研究成果、/span>
Park消除串扰技?/span>
Park NX10可以为用户带?*纳米级分辨率的数据，它是全球**一个实现真正非接触模式的原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还可以良好地保护样品不受损坏，延长样品的使用寿命。可弯曲的独立的XY和Z扫描仪可带来超强精确度和分辨率、/span>
Park先进的原子力显微镜模弎/span>
Park原子力显微镜具有综合的扫描模式，可帮助用户准确有效地收集各种数据类型、/span>
1.扫描范围?0 m x 50 m ?D扫描?/span>
XY轴扫描器有对称的二维高强度压电叠堆。它可为进行精确的纳米级样品扫描，提供基本的面外高效正交运动和高响应能力。Park NX10的这种紧密刚硬的构造具备低噪声高速的伺服响应能力、/span>
2. 高速Z轴扫描器，扫描范围达15 m
借助高强度压电叠堆和挠性设计，标准Z轴扫描器的共振频率高?kHz(一般为10.5kHz）且探针的Z轴速率不低?8mm/秒 Z?*扫描范围可从标准?5 m扩展?0 m（可另选Z扫描头）、/span>
3. 低噪声XYZ位置传感?/span>
行业**的低噪声Z轴探测器代替Z电压作为形貌信号。低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下、/span>
4. 驱动XY轴样品台
XY轴样品台是驱动化的，以便于将样品导航并定位到扫描区域。这种驱动台在这两个轴上的分辨率同为0.6um（使用微步）
5. 自动步进扫描
借助驱动样品台，步进扫描可编程多区域成像，以下是它的工作流程９/span>
1.扫描成像
2.抬起悬臂
3.移动驱动平台到设定位?/span>
4.进针
5.重复扫描该自动化功能可大大减少扫描过程中手动需求，从而很大程度上提高生产力、/span>
操作方便的样品台
6.Park NX10的独特头部设计可使用户从侧面操作样品和探针，用户在样品台上可放置?*样品体积?0mm 50mm20mm（长?#215;高）、/span>
7.高级扫描探针显微镜模式和选项的扩展槽
只需将可选模块插入扩展槽便可激活高级扫描探针显微镜模式。得益于NX系列原子力显微镜的模块设计，其生产线设备兼容性得到大大提高、/span>
8.结合了集成LED照明的同轴高倍显微镜
超长工作距离的定制物镜（工作距离50mm 数值孔?.21，分辨率1.0 m ）带?***的镜头清晰度。直视同轴设计使得用户可轻易在样品表面寻找目标区域。EL20x的长行程物镜的大尺寸CCD可为您在高视角前提下提供0.7 m的高分辨率、/span>
9.滑动嵌入SLD镜头的自主固定方弎/span>
您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜镜头。该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置，同时与复位精度为几微米的电路系统相连接。借助于相关性低的SLD，显微镜可精确成像并可准确测定力-距离曲线、/span>
10.垂直调节驱动的Z平台和聚焦平?/span>
驱动Z平台和驱动聚焦平台可使悬臂检测样品表面并为用户持续提供清晰的图像。用户通过软件界面进行操控，由高精度步进电机带动，即使是透明样品或液池应用中都可简单操作、/span>
多种选择Option
NX系列有适合大众化的各种扫描模式，能满足您的所有研究需求、/span>
标准成像
- 真正的非接触模式 AFM
- 接触模式AFM
- 侧向力显微镜 （LFM)
- 相位成像
- 间歇式（轻敲式）AFM
电性能
- 导电AFM
- I-V谱线
- 扫描开尔文探针显微 （SKPM/KPM)
- 高电压SKPM
- 扫描电容显微 （SCM)
- 扫描电阻显微 （SSRM)
- 扫描隧道显微 （STM)
- 扫描隧道光谱 （STS)
- 时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)
Magnetic Properties磁性能
- 磁力显微 （MFM)
- 可调外加磁场MFM
化学性能
- 功能化探针的化学力显微镜
- 电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)
热性能
- 扫描热感显微?SThM)
光学性能
- 探针增强拉曼光谱 (TERS)
- 时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)
介电/压电性能
- 静电力显微镜 （EFM)
- 动态接触式静电力显微镜（DC-EFM)
- 压电力显微镜 （PFM)
- 高电压PFM
机械性能
- 力调制显微镜 （FMM)
- 纳米压痕
- 纳米刻蚀
- 高电压纳米刻蚀
- 纳米操纵
- 压电力显微镜 （PFM)
力测野/span>
- 力－距离（F-D)光谱
- 力－体积成像
- 热噪声法标定弹性系?/span>
1.高样 1.5 m台阶高度
扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图
2.平样 蓝宝石晶圆的原子台阶
0.3nm台阶高度，扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图
3.硬样 钨膜
扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图
**张图＋/span>
扫描?5张图之后
4.软样 胶原原纤绳/span>
扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图
形貌图，相图
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技术参数：
扫描?/span>
Z扫描?/span>
柔性引导高推动力扫描器
扫描范围９/span>15m(可逈/span>30m)
分辨率：0.015 nm
位置探测器噪声：0.03 nm (带宽: 1 kHz)
共振频率９ 9 kHz （通常10.5 kHz ）AFM测头
SICM测头
压电叠堆的挠性结枃/span>
Z扫描范围?5 m
位置探测器噪声：0.03 nm (带宽: 1 kHz)
XY 扫描?/span>
闭环控制的柔性引导XY扫描?/span>
扫描范围９/span>50 m 50 m (可 10 m 10 m or 100 m 100 m)
分辨率：0.05 nm
位置探测器噪声：< 0.25 nm (带宽: 1 kHz)
离面运动９ 2 nm (扫描超过40 m)
驱动?/span>
样品容量?*开放空间为100 mm x 100 mm，厚?*值为20mm
样品重量??00g
XY位移台行程范围：20 mm x 20 mm
Z位移台行程范围：25 mm
聚焦样品台行程范围：15 mm
影像
样品表面和悬臂的直观同轴影像
视野?80 m 360 m (10倍物?
CCD: 1 Mpixel (像素分辨玆 0.4 m)
5 Mpixel (像素分辨玆 0.2 m)
物镜
10 (0.21NA) 超长工作距离镜头(1m分辨?
20 (0.42NA) 高分辨率，长工作距离镜头(0.6m分辨?
电子
信号处理
ADC: 18 通道
ADC通道 (64 MSPS)
24-bit ADC X Y Z 扫描器位置传感器
DAC:11通道
DAC通道?4MSPS））
20-bit DAC X Y Z 扫描器定佌/span>
**数据量：4096 x 4096像素
集成功能
3通道数字锁相放大?/span>
弹性系数校?热方?
数据Q 控制
连接外部信号
20个嵌入式输入/输出端口
5个TTL输出 EOF EOL EOP Modulation，and AC bias
选项/模式
标准成像
实际非接触模弎/span>
接触模式
侧向摩擦力显微术 （LFM)
相位成像模式
轻敲模式
化学性能
功能化探针的化学力显微镜
电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)
介电／压电性能
静电力显微镜
动态接触式静电力显微镜(EFM-DC)
压电力显微镜 (PFM)
高电压PFM
力测野/span>
力－距离（F-D)光谱
力谱成像
磁性能
磁力显微 （MFM)
可调MFM
热性能
扫描热显微镜(SThM)
电性能
Pinpoint 导电AFM (CP-AFM)
I-V谱线
扫描开尔文探针显微 (SKPM/KPM)
高电压SKPM
QuickStep扫描电容显微?SCM)
扫描电阻显微?SSRM)
扫描隧道显微?STM)
扫描隧道光谱(STS)
光电流测?PCM)
机械性能
Pinpoint模式
力调制显微镜(FMM)
纳米压痕
纳米刻蚀
高电压纳米刻蚀
纳米操纵
软件
Park SmartScan?
AFM系统控制和数据采集的专用软件
智能模式的快速设置和简易成僎/span>
手动模式的高级使用和更精密的扫描控制
XEI
AFM数据分析软件
独立设计—?可独立安装和分析数据
能够生成采集数据?D绘制
配件
手套箰/span>
磁场发生?/span>
温控隔音?/span>
售后服务９/span>
Park在中国北京，上海都设有办事处，售后工程师共十位，可以全方面地满足顾客所有需求，如有需要，请电邮或者电话联系销售、/span>
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