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----源自荷兰飞利?/span>
Phenom Pro 放大倍数100?00倍,分辨率优?7nm?0秒快速得到表面细节丰富的优质显微像。是一款功能齐全的高分辨率台式扫描电镜,可用于测量亚微米或纳米尺寸的样品。Phenom Pro可选配丰富的拓展功能选件Phenom Pro Suite,如三维粗糙度重建、纤维直径和孔洞面积(孔隙率)统计分布、高倍拼图、远程控制操作等、/p>
PhenomPro台式扫描电镜专业 —智能、高效、多功能 ? 放大倍数?0-100?00 ? 分辨率:优于17nm ? 电子枪:1500小时CeB6灯丝 ? 抽真空时间:10科/p> ? 样品移动方式:自动马达样品台 ? 样品定位方式:光学和低倍电子双重导?/p> ? 样品导电性要求:无需喷金,直接观测绝缘体 ? 拓展功能?D粗糙度重建、纤维统计测量,高倍拼图等 ? 环境扫描选件(ESEM):温控样品台,可直接观测液佒/p>Phenom Pro (台式扫描电 专业版) 采用寿命高达1500小时的新一代CeB6灯丝和分辨率更高,功能更全的光学显微镜,提高后的光学显微镜有聚焦功能,放大倍数?0-120倍之间,具备明场和暗场两种模式、/td> |
表面细节丰富的高分辨率照牆/span> |
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Phenom Pro 为您提供高信噪比、表面细节丰富的优质图像9/p> |
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? 20-100?00连续放大,分辨率优于17nm,大景深:/p> |
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? 信号较少的钨灯丝电镜通过提高加速电压来产生更多信号,密度较小的样品会因为电子穿透过深而导致表面细节缺失。信号是钨灯?0倍以上的CeB6在低 |
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电子穿透深度浅,避免样品被破坏,展现更多表面细节; |
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? 探测背散射电子,展现清晰形貌结构的同时,提供丰富的成份信息; |
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左图?kV低加速电压下,电子反应区位于样品表面,配合高亮度CeB6灯丝,既保证了分辨率,又得到样品表面的信息; 右图?5kV高加速电压下,电子穿透深度较深,表面细节丢失 |
CeB6灯丝在样品表面单位面积内激发的信号约是钨灯丝的10倍,适合于低加速电压观浊/p> |
表面形貌和成分信息同时展?/strong> |
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背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom采用4分割半导体背散射电子探测器,为您提供两种成像模式,模式之间可迅速切换: |
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? 成份模式:同时给出样品表面形貌与成份信息,不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨 |
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? 形貌模式:去除成份信息,样品表面凹凸起伏等微观结构更加明晰,适用于表面粗糙度和缺陷分枏/p> |
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成份模式4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相叠功/p> |
形貌模式4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相抵涇/p> |
成份模式图像包含样品成份与形貌信?/p> |
形貌模式图像仅突出样品表面形貌特?/p> |
**样品杯,30秒快速成僎/strong> |
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Phenom**样品杯、低真空设计?*的真空封锁技术,装入样品?0秒内即可得到高质量图像,耗时仅为传统电镜?/10左右、/p> |
直接观看绝缘体,无需喷金 |
Phenom采用低真空技术,出射电子与空气分子碰撞产生正离子,正离子与样品表面累积的电子中和,有效抑制荷电效应的产生,直接观测各种不导电样品(如下图所示)、/p> 利用降低荷电效应样品杯,更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右,而且不会影响灯丝寿命,下图头发示例: |
操作简便,全程导航 |
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? 自动/手动聚焦 |
Phenom操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM导航窗口,方便用户在不同样品、不同区域间进行切换、/p> |
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? 自动/手动亮度 |
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? 自动/手动对比?/p> |
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? 自动灯丝居中调节 |
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? 自动马达样品?/p> |
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? 光学/电子样品导航 |
光学导航,所有带观测样品尽在视野之中,高倍下准确切换样品,只需点击感兴趣样品,即可自动移动到屏幕中?/p> |
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低倍SEM照片导航,导航窗口中的彩色矩形框指示了住观测窗口的观测区域,点击感兴趣的区域,自动移动到样品中央、/p> |
环境适应性高,完全防霆/strong> |
Phenom可以放置在几乎所有的室内环境当中,无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计,震动不会引起三者间的相对运动,使Phenom成像不受震动影响,可放置在较高楼层、/p> |
互联网远程检浊/strong> |
Phenom拥有远程检测功能,通过网络,专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难,为您提供全方位的保护,让您的Phenom随时处于**工作状态、/p> |
丰富的拓展功能选件 |
适用于不同领域的样品杯选件 |
暂无数据