DECTRIS混合像素光子X射线探测�?span>PILATUS3 R CdTe

1�?/span>�?/strong>�?/span>特点９�/span>

PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点、�/p>

与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率� CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平、�/p>

实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力�?快计数电子设备？结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源、�/p>

具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的独特组合，并且是实验室中这些要求�?*匹配、�/span>2、核心优劾�/span>

- Mo，Ag和In量子效率> 90＄�/span>

- 直接检�?清晰的空间分辨率

- 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到**精度

- 高动态范図�/span>

- 荧光背景抑制

- **的计数率

- 同步辐射证明的辐射硬�?/span>

- 免维护运衋�/span>

- 高可靠性：没有容易发生故障的密封或复杂，冷却至室温以下

3、应用领埞�/strong>

- 电荷密度分析

- 配对功能（PDF）分枏�/span>

- 高分辨率化学结晶�?/span>

- 高压/高温XRD

- 关键尺寸SAXS

- 计算机断层扫描（CT（�/span>

- 无损检测（NDT（�/span>

4�?/span>技术参数：

PILATUS3 R CdTe	300K	300K-W
探测器模块数野�/span>	1 �� 3	3 x 1
有效面积：宽��� [mm2]	83.8 �� 106.5	253.7 x 33.5
像素大小 [��m2]	172 x 172
总像素数野�/span>	487 �� 619	1475 �� 195
间隙宽度� 水平/垂直（像素） *每个模块之间水平间隙增加1个像紟�/span>	- */ 17	7* / -
非灵敏区 [ % ]	5.7	1.1
缺陷像素	< 0.1%
**帧频 [Hz]	20
读出时间 [ms]	7
点扩散函�?/span>	1 pixel（FWHM（�/span>
计数器深�?/span>	20 bits�?�?48�?76 counts（�/span>
功� [W]	30
尺寸（WHD）[mm3]	158 x 193 x 262	280 x 62 x 296
重量 [kg]	7.5	7.0
模块冷却	水冷
外接触发电压	5V TTL