Thermo Fisher瑞美RM115EL X射线荧光实验室涂层测厚仪

这台实验室涂层测厚仪能对用于带钢的金属涂层进行精确、快速的非接触式涂层重量测量。它能对样片进行精确的离线测量，同时省去了高成本且冗长的化学分析。由于使用非破坏性射线来测量，样片可以作为质量保证的目的而保存下来、�/span>

用于安装在：

热镀锌线

电镀纾�/span>

这台实验室涂层测厚仪能对用于带钢的金属涂层（镀锌，锌铝合金，铝，锡，镀铅锡板，……）进行精确、快速的非接触式涂层重量测量、�/span>

测量９�/span>

对样片进行离线涂层厚度测量，无需化学分析、�/span>

功能９�/span>

精确的样板测量，无需高成本、冗长的化学分析。由于使用非破坏性射线来测量，样片可以作为质量保证的目的而保存下来。与在线式测厚仪相比，它不会受到生产过程所产生的干扰的影响。通过对插入的样片进行扫描，可以得到样片区域金属涂层的拓扑结构。由于使用了与在线系统相同的探头和电子部件，这套实验室用涂层测厚仪的部分配件可以做为它的“可用的备件”� 在界面友好的操作终端上操�?显示测量值。操作终端通过以太网与测厚仪主电柜内的处理电路相连、�/span>

设计紧凑:

在操作时，无需在测厚仪机柜以外设置安全区域。安全电路也能防止在打开机柜或防止样片的抽屉时发生辐射泄漏、�/span>